Halftoning: revisión y análisis.

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Fernando Pelcastre
Leticia Peregrina
Marcela García
Alejandro Ochoa
Ulises Juárez
Elizabeth Ríos
Gibran Benítez
Nakano Mariko

Abstract

Halftoning es una técnica indispensable para mostrar imágenes digitales en pantalla e imprimirlas en papel usando cualquier tipo de impresora tales como Inkjet y láser. Además de lo anterior, la técnica de halftoning se ha empleado recientemente en diversas aplicaciones en el campo de computación y comunicación, tales como compresión y autenticación de imágenes, criptografía visual, etc. Este artículo proporciona una revisión detallada de los métodos principales de halftoning, los cuales son ordered dither, difusión de error, difusión de error con enfatización de borde, difusión de puntos, ruido verde y búsqueda binaria directa. Para el análisis de las ventajas y desventajas de cada método de halftoning se realizó una comparación de calidad de imagen halftone generada por los métodos mencionados anteriormente usando medición MOS (Mean Opinion Score). Asimismo, se consideró la complejidad computacional de cada método de halftoning.

How to Cite
Pelcastre, F., Peregrina, L., García, M., Ochoa, A., Juárez, U., Ríos, E., … Mariko, N. (2014). Halftoning: revisión y análisis. Revista Ingenierías Universidad De Medellín, 11(21), 161–174. Retrieved from https://revistas.udem.edu.co/index.php/ingenierias/article/view/606

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Author Biographies

Fernando Pelcastre, Instituto Politécnico Nacional de México

Ingeniero en computación, estudiante del programa de Maestría en Microelectrónica, Instituto Politécnico Nacional de México. Dirección: Av. Santa Ana no. 1000, Col. San Francisco Culhuacan, México D. F., México.

Leticia Peregrina, Instituto Politécnico Nacional de México

Ingeniero en computación, estudiante del programa de Maestría en Microelectrónica, Instituto Politécnico Nacional de México. Dirección: Av. Santa Ana no. 1000, Col. San Francisco Culhuacan, México D. F., México.

Marcela García, Instituto Politécnico Nacional de México

Ingeniero en computación, estudiante del programa de Maestría en Microelectrónica, Instituto Politécnico Nacional de México. Dirección: Av. Santa Ana no. 1000, Col. San Francisco Culhuacan, México D. F., México.

Alejandro Ochoa, Instituto Politécnico Nacional de México

Ingeniero en computación, estudiante del programa de Maestría en Microelectrónica, Instituto Politécnico Nacional de México. Dirección: Av. Santa Ana no. 1000, Col. San Francisco Culhuacan, México D. F., México.

Ulises Juárez, Instituto Politécnico Nacional de México

Ingeniero en computación, estudiante del programa de Maestría en Microelectrónica, Instituto Politécnico Nacional de México. Dirección: Av. Santa Ana no. 1000, Col. San Francisco Culhuacan, México D. F., México.

Elizabeth Ríos, Instituto Politécnico Nacional de México

Ingeniero en computación, estudiante del programa de Maestría en Microelectrónica, Instituto Politécnico Nacional de México. Dirección: Av. Santa Ana no. 1000, Col. San Francisco Culhuacan, México D. F., México.

Gibran Benítez, Instituto Politécnico Nacional de México

Ingeniero en computación, estudiante del programa de Maestría en Microelectrónica, Instituto Politécnico Nacional de México. Dirección: Av. Santa Ana no. 1000, Col. San Francisco Culhuacan, México D. F., México.

Nakano Mariko, Instituto Politécnico Nacional de México

Doctora en ciencia, Investigadora de Instituto Politécnico Nacional de México, Dirección: Av. Santa Ana no. 1000, Col. San Francisco Culhuacan, México D. F., México, Correo  Fax: +52 55 56562058